ADCMT 爱德万 光学测量仪 光波长计
8471采用He-Ne激光作为基准波长，基于迈克耳孙干涉仪原理的光波长计，可实现高精度测量。因此，能够以高分辨率、高精度测定DWDM用LD等器件的发光中心频率。
测量速度高达每秒10次，非常适合振荡波长的调整。

8471采用He-Ne激光作为基准波长，基于迈克耳孙干涉仪原理的光波长计，可实现高精度测量。因此，能够以高分辨率、高精度测定DWDM用LD等器件的发光中心频率。

测量速度高达每秒10次，非常适合振荡波长的调整。

ADCMT 爱德万   光学测量仪 光波长计

测量波长范围：630 nm～1650 nm（182 THz～476 THz）

可按波长和频率显示

高速测量：10次/秒

高灵敏度测量：－35 dBm（1200 nm～1600 nm）

可显示最大值、最小值及偏差

最多可保存10,000条数据

可进行最多100次的平均测量

不仅配备GPIB接口，还配备USB接口

ADCMT 爱德万   光学测量仪 光波长计

8471采用He-Ne激光作为基准波长，基于迈克耳孙干涉仪原理的光波长计，可实现高精度测量。因此，能够以高分辨率、高精度测定DWDM用LD等器件的发光中心频率。

测量速度高达每秒10次，非常适合振荡波长的调整。

此外，借助偏差显示功能，还可对短时间内的波长变化进行高分辨率、高精度的测量。因此，该仪器可用作分光器或光谱分析仪校准用的波长标准。

此外，还可实现LD波长温度特性、波长电流特性等参数的自动化测量。

特点

高分辨率／高精度测量

采用干涉仪技术，实现了0.001 nm（1 pm）的高分辨率测量。此外，通过10次以上的平均测量，还可达到0.0001 nm（0.1 pm）的分辨率。同时，由于以He‑Ne激光作为基准波长，可实现最高2 ppm的高精度测量。更进一步地，由于He‑Ne激光具有的波长稳定性，无需定期校准，即可长期保证2 ppm的高精度测量。